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HORIBA(堀场集团)发布新品,NANO Raman家族又添新成员

HORIBA发布新品,NANO Raman家族又添新成员

随着扫描探针显微镜SPM在二十世纪八十年代的出现大气环境中的纳米尺度成像成为了可能。该技术使材料表面各种物理特性的表征得以快速持续的发展然而如何实现纳米尺度的的化学结构表征仍是一项挑战。



因此将这两种技术结合是极富吸引力和挑战性的引领我们进入纳米光学的世界。在该领域HORIBA Scientific 通过几十年的经验积累和努力开发了一套 NanoRaman 的整体解决方案使其成为一个通用且功能强大、使用简便、快速可靠的分析工具。



1 多种样品分析平台



2 简便易操作



3 真共聚焦



4 高灵敏度



5 高光谱分辨率



6 纳米尺度空间分辨率



7 多种测试模式 / 多种环境



8 稳定性



9 灵活性



2、强有力的的物理、化学结构表征工具



· 可同时进行 SPM 和拉曼光谱测试



· 通过 SWIFT XS 和 EMCCD 探测器可以实现高通量信号收集能力和快速扫描速度



· 可选配 HORIBA 拉曼光谱仪系统以获得高光谱性能



· 一键完成“悬臂梁 - 参考激光”对准及调谐频率优化无需手动调整



· 通过物镜扫描器自动完成拉曼激光与 TERS 针尖耦合



3、操作简单的TERS系统



拉曼和扫描探针显微镜可以偶联成为一套系统同Omni TM 型号的 TERS 探针可同时获取样品表面形貌和 TERS 光谱。



· 适用不同方向的 TERS 耦合 : 顶部、侧向和底部



· 惰性气体包装延长针尖的使用寿命



02 如何实现 TERS



03 什么是同区域成像



AFM 和其他的 SPM 技术如 STM, 音叉模式正交力和剪切力可以提供表面形貌力学性能热学性能电学和磁学性能以及分子分辨率测试另一方面共焦拉曼光谱和成像提供材料的化学信息受到空间分辨率的限制。



HORIBA 提供一系列的测试样品包括单壁碳纳米管和氧化石墨烯适当的分散可以做 TERS 成像。样品用来展示 AFM 的分子分辨率通过 TERS成像展示 20 nm 的空间分辨率。



· 集成化软件一个软件即可控制NanoRaman 整个平台包括单独AFM、拉曼、光致发光、同区域成像测试和 TERS



· 独有的 Spec-top 成像模式Spec-top为特有的轻敲模式根据设置的步进轻敲样品这样既保留了针尖的尖锐度也提高了 TERS 信号的放大倍数。



多变量分析全矩形扫描区域会消耗大量时间可以在 AFM 图上选择不规则区域来做成像






高空间分辨率自动成像平台多种显微镜可视观察系统 



多种 SPM 模式包括 AFM、导电 AFM、开尔文、STM 模式可以子在液体和电化学环境下测试通过 TERS 和 TEPL 技术可同时获得化学信息成像通过一台电脑即可控制及使所有功能。


注:文章内的所有配图皆为网络转载图片,侵权即删!